中国泰尔实验室教授级高级工程师何健强

　　新浪科技讯 4月12日-13日，移动终端研发与测试中国论坛将在北京召开，该会议将围绕产业政策走向、研发测试成果、市场调研分析等方面的内容深入探讨，而3G终端的测试情况无疑成为关注的焦点，新浪为本次会议的独家支持门户。

　　以下为中国泰尔实验室教授级高级工程师何健强个人资料：

　　何健强

　　男

　　1964年毕业于南京邮电学院无线电通信工程系

　　信息产业部电信研究院 中国泰尔实验室 教授级高级工程师

　　长期从事电信终端设备标准和合格评定研究

　　曾担任中国国家电话机质检中心常务副主任和信息产业部电信传输研究所副总工程师等职。

　　1980年至1982年曾以访问学者身份在英国ASTON大学和英国电信标准研究所(STL)从事电话传输性能主客观评定方法和响度评定值客观测试系统的研究。

　　1983年至2001年期间曾代表我国参加ITU-T有关“电信终端和网络的传输性能”国际标准的研究活动。

　　近几年随信息产业部有关部门领导参加APEC电信设备互认可的相关活动。