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IDF07:高K+金属栅极 45nm芯片的基础

http://www.sina.com.cn 2007年04月18日 12:29  泡泡网
作者:赵健锋
    4月17日以“多重动力,携手创新”为主题的英特尔2007年首场信息技术峰会(Intel Developer Forum,简称IDF)今天在北京国际会议中心正式开幕。今年是英特尔第一次将年度首场IDF选在美国之外举行,也是在中国举办的规模最大的一次峰会。

    包括英特尔CTO贾斯汀、数字企业部总经理基辛格等众多技术高管将出席峰会,来自全球各地的IT和技术决策者、开发人员、英特尔技术合作伙伴等将齐聚一堂,与英特尔技术专家、思想领袖面对面交流分享最新的技术趋势和应用。泡泡网受邀参加此次IT盛会,将在此期间将全程为您报道此次IDF的盛况。

IDF07:高K+金属栅极45nm芯片的基础

  英特尔高级院士兼制程架构与集成部门总监:马博

    在4月18日IDF峰会的主题演讲《芯片技术的领先地位与全新扩展范例》中,马博讲述了Intel在45nm芯片技术上的研究成果,而这一突破性进展要归功于高K+金属栅极晶体管的革命材质。

IDF07:高K+金属栅极45nm芯片的基础
 
    45nm相对65nm的优势是不言而喻的,低功耗与高集成是它主要解决的问题,而45nm的酷睿2也将在07年下半年进行量产。
 
IDF07:高K+金属栅极45nm芯片的基础
 
    而革命性的高K+金属栅极晶体管的应用正是实现45nm技术芯片的关键,在这个基础上,Intel甚至可以再接再厉,研发出更微型的32nm芯片。

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