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研究发现硬盘无故障时间指标被夸大!http://www.sina.com.cn 2007年03月05日 14:15 IT168.com
【IT168 资讯】卡内基梅隆大学在旧金山的第五届USENIX Conference大会上提出了自己对约10万块硬盘进行研究后得出的结论,这些结论不仅将使得硬盘厂商们可以改进产品设计,而且对我们的使用和购买硬盘产品也有不小的帮助。 他们研究认为,硬盘的“平均无故障时间”即MTTF指标都被夸大了,一般硬盘都标志MTTF为几百万小时,但是他们得出的结论是硬盘产品的实际失效几率是MTTF指标的15倍之多。如果按照MTTF为100-150万小时计算,那么即使在最坏的情况下,硬盘每年的失效率不过0.88%,但卡内基梅隆大学的研究人员在研究了各种大型生产系统、互联网服务网站等地的硬盘后发现,实际数字一般都会超过1%,通常在2-4%左右,在某些极端情况下甚至高达13%以上,甚至24%。 研究得出的结论还有: 更快、更贵的光纤通道硬盘并不一定就比普通SATA硬盘更可靠;
详细研究说明地址:http://www.usenix.org/events/fast07/tech/schroeder/schroeder_html/index.html
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