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日开发出正电子纳米显微技术


http://www.sina.com.cn 2006年08月09日 13:47 新华网

  新华网东京8月9日电 (记者 钱铮) 日本原子能研究开发机构开发出一种正电子纳米显微新技术。它可利用正电子束,对表面纳米物质内部的原子排列精密观测,这项技术将帮助开发新的表面纳米技术。

  表面纳米技术是纳米材料技术与表面技术相交叉的高新技术,指通过表面技术处理纳米材料,使金属或非金属表面形成纳米层。这种纳米层具备高硬度、耐磨、耐腐蚀和耐高温
等特性。

  这种纳米层的组成物质被称为表面纳米物质。表面纳米物质是未来半导体产业的尖端材料,高精度显微技术是研究这种尖端材料的首要工具。然而,普通的显微设备都会探测进入物体内部,不可能只对表面的纳米层进行观测,这影响了观测的精度。

  根据原子能研究开发机构日前发布的新闻公报,该机构一直致力于开发正电子束显微技术。由于电荷的斥力,带正电荷的正电子束难以进入物体内部,而是在物体表面被全部反射。利用这一特性,科学家开发出了这种显微新技术。

  据研究人员说,他们在试验中利用正电子束照射覆盖在硅表面厚约0.2纳米的超薄银膜,并完全看清了这种表面纳米物质的原子排列。

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